All Issue

2025 Vol.35, Issue 9 Preview Page

Research Paper

27 September 2025. pp. 441-448
Abstract
References
1

K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva and A. A. Firsov, Science, 306, 666 (2004).

10.1126/science.1102896
2

C. Lee, X. D. Wei, J. W. Kysar and J. Hone, Science, 321, 385 (2008).

10.1126/science.1157996
3

A. A. Balandin, S. Ghosh, W. Bao, I. Calizo, D. Teweldebrhan, F. Miao and C. N. Lau, arXiv:0802.1367 (2008).

4

K. I. Bolotin, K. J. Sikes, Z. Jiang, M. Klima, G. Fudenberg, J. Hone, P. Kim and H. L. Stormer, Solid State Commun., 146, 351 (2008).

10.1016/j.ssc.2008.02.024
5

X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. K. Banerjee, L. Colombo and R. S. Ruoff, Science, 324, 1312 (2009).

10.1126/science.1171245
6

S. Bae, H. Kim, Y. Lee, X. Xu, J.-S. Park, Y. Zheng, J. Balakrishnan, T. Lei, H. R. Kim, Y. I. Song, Y.-J. Kim, K. S. Kim, B. Özyilmaz, J.-H. Ahn, B. H. Hong and S. Iijima, Nat. Nanotechnol., 5, 574 (2010).

10.1038/nnano.2010.132
7

X. Liang, B. A. Sperling, I. Calizo, G. Cheng, C. A. Hacker, Q. Zhang, Y. Obeng, K. Yan, H. Peng, Q. Li, X. Zhu, H. Yuan, A. R. Hight Walker, Z. Liu, L.-M. Peng and C. A. Richter, ACS Nano, 5, 9144 (2011).

10.1021/nn203377t
8

S. Lee, Surface Science, 641, 16 (2015).

10.1016/j.susc.2015.05.006
9

M.-A. Yoon, C. Kim, J.-H. Kim, H.-J. Lee and K.-S. Kim, Sensors, 22, 3944 (2022).

10.3390/s2210394435632354PMC9143786
10

S. Kim, S. Shin, T. Kim, H. Du, M. Song, C. W. Lee, K. Kim, S. Cho, D. H. Seo and S. Seo, Carbon, 98, 352 (2016).

10.1016/j.carbon.2015.11.027
11

C.-D. Liao, A. Capasso, T. Queirós, T. Domingues, F. Cerqueira, N. Nicoara, J. Borme, P. Freitas and P. Alpuim, Beilstein J. Nanotechnol., 13, 796 (2022).

10.3762/bjnano.13.7036105686PMC9443383
12

A. Kozbial, Z. Li, C. Conaway, R. McGinley, S. Dhingra, V. Vahdat, F. Zhou, B. D’Urso, H. Liu and L. Li, Langmuir, 30, 8598 (2014).

10.1021/la5018328
13

J. W. Suk, A. Kitt, C. W. Magnuson, Y. Hao, S. Ahmed, J. An, A. K. Swan, B. B. Goldberg and R. S. Ruoff, ACS Nano, 5, 6916 (2011).

10.1021/nn201207c
14

G. B. Barin, Y. Song, I. F. Gimenez, A. G. Souza Filho, L. S. Barreto and J. Kong,Carbon, 84, 82 (2015).

10.1016/j.carbon.2014.11.040
15

X.-D. Chen, Z.-B. Liu, C.-Y. Zheng, F. Xing, X.-Q. Yan, Y. Chen and J.-G. Tian, Carbon, 56, 271 (2013).

10.1016/j.carbon.2013.01.011
16

V. E. Calado, G. F. Schneider, A. M. M. G. Theulings, C. Dekker and L. M. K. Vandersypen, Appl. Phys. Lett., 101, 103116 (2012).

10.1063/1.4751982
17

R. Noonuruk, J. Sritharathikhun and W. Pecharapa, Curr. Appl. Sci. Technol., 16, 46 (2016).

18

M. J. Lee, J. S. Choi, J.-S. Kim, I.-S. Byun, D. H. Lee, S. Ryu, C. Lee and B. H. Park, Nano Res., 5, 710 (2012).

10.1007/s12274-012-0255-9
19

P. Verding, R. M. Joy, D. Reenaers, R. S. N. Kumar, R. Rouzbahani, E. Jeunen, S. Thomas, D. Desta, H.-G. Boyen, P. Pobedinskas, K. Haenen and W. Deferme, ACS Appl. Mater. Interfaces, 16, 1719 (2024).

10.1021/acsami.3c1401438154790PMC10789259
20

A. C. Ferrari, J. C. Meyer, V. Scardaci, C. Casiraghi, M. Lazzeri, F. Mauri, S. Piscanec, D. Jiang, K. S. Novoselov, S. Roth and A. K. Geim, Phys. Rev. Lett., 97, 187401 (2006).

10.1103/PhysRevLett.97.187401
21

J. Hodkiewicz, Characterizing Graphene with Raman Spectroscopy, Thermo Fisher Scientific, Appl. Note 51946 (2010).

22

S. Goniszewski, J. Gallop, M. Adabi, K. Gajewski, O. Shaforost, N. Klein, A. Sierakowski, J. Chen, Y. Chen, T. Gotszalk and L. Hao, IET Circuits Devices Syst., 9, 420 (2015).

10.1049/iet-cds.2015.0149
23

Y. Lee, S. Bae, H. Jang, S. Jang, S.-E. Zhu, S. H. Sim, Y. I. Song, B. H. Hong and J.-H. Ahn, Nano Lett., 10, 490 (2010).

10.1021/nl903272n
Information
  • Publisher :Materials Research Society of Korea
  • Publisher(Ko) :한국재료학회
  • Journal Title :Korean Journal of Materials Research
  • Journal Title(Ko) :한국재료학회지
  • Volume : 35
  • No :9
  • Pages :441-448
  • Received Date : 2025-08-13
  • Revised Date : 2025-09-11
  • Accepted Date : 2025-09-12